L79/HCS : mesurer la constante de Hall
Pour la caractérisation des semi-conducteurs le L79/HCS permettra d’accéder aux grandeurs suivantes : la mobilité, la résistivité, la concentration de porteurs de charge et la constante de Hall.
Ce dispositif peut être équipé de divers porte-échantillons afin d’analyser différentes géométries. Des systèmes de refroidissement à l’azote liquide et un système de chauffage jusqu’à 240°C (options) permettent de couvrir une large gamme d’applications.
Un choix d’aimants permanents et d’électro-aimants est disponible afin de couvrir une large plage de champs magnétiques (fixes ou variables) jusqu’à plusieurs Tesla.
Le logiciel performant sous Windows permet de tracer des diagrammes I-V et I-R.
Cet appareil permet de caractériser divers matériaux comme par exemple : Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (type N &type P), couches de métaux, oxydes, etc…
Testez les capacités de ce système de mesure et envoyez-nous vos échantillons.
Grandeurs mesurées:
- Concentration de porteurs de charge
- Résistivité
- Mobilité
- Conductivité Alpha (ratio horizontal/vertical de la résistance)
- Constante de Hall
- Magnétorésistance
| Modèle | L79 HCS |
| Courant d’entrée: | de 500nA jusqu’à 10mA (incrément de 500nA) |
| Tension Hall: | 0.5 jusqu’à 4.5V |
| Résolution maximale: | 65pV |
| Dimensions d’échantillon: | 15×15, 20×20, 25x25mm, Hauteur jusqu’à 5mm |
| Champs magnétique: | jusqu’à 1T |
| Température: | refroidissement à l’azote liquide jusqu’à 240°C |
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