L79/HCS : La mesure de la constante de Hall

mesure effet Hall

L79/HCS

Pour la caractérisation des semi-conducteurs le L79/HCS permettra d’accéder aux grandeurs suivantes : la mobilité, la  résistivité, la concentration de porteurs de charge et la constante de Hall.

Ce dispositif  peut être équipé de divers porte-échantillons afin d’analyser différentes géométries. Des systèmes de refroidissement à l’azote liquide et un système de chauffage jusqu’à 240°C (options) permettent de couvrir une  large gamme d’applications. 

Un choix d’aimants permanents et d’électro-aimants est disponible afin de couvrir une large plage de champs magnétiques (fixes ou variables) jusqu’à plusieurs Tesla. 

Le logiciel performant sous Windows permet de tracer des diagrammes I-V et I-R.

Cet appareil  permet de caractériser divers matériaux comme par exemple : Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (type N &type P), couches de métaux, oxydes, etc…
Testez les capacités de ce système de mesure et envoyez-nous vos échantillons.

Grandeurs mesurées: 

  • Concentration de porteurs de charge
  • Résistivité
  • Mobilité
  • Conductivité Alpha (ratio horizontal/vertical de la résistance)
  • Constante de Hall
  • Magnétorésistance

N’hésitez pas à nous contacter pour en savoir plus.

ModèleL79 HCS
Courant d’entrée:de 500nA jusqu’à 10mA (incrément de 500nA)
Tension Hall:0.5 jusqu’à 4.5V
Résolution maximale:65pV
Dimensions d’échantillon:15×15, 20×20, 25x25mm, Hauteur jusqu’à 5mm
Champs magnétique:jusqu’à 1T
Température:refroidissement à l’azote liquide jusqu’à 240°C